集成电路IC（卡）读写机检测

百检检测是专业第三方检测机构,提供相关成分试验检测等.周期短,价格优,出具国家认证资质报告

报告资质：CNAS、CMA、CAL等

检测费用：根据客户需求及实验复杂程度报价

样品大小：根据样品大小选择寄样或上门

检测项目：

部分参数,低温试验,包装跌落,恒定湿热,电源适应能力,电磁兼容,碰撞,部分项目,高温试验,冲击试验,工作条件恒定湿热试验,工作温度上限试验,工作温度下限试验,振动试验,贮存条件恒定湿热试验,贮存温度上限试验,贮存温度下限试验,运输包装件跌落试验,全部参数,电磁兼容性(EMI),电磁兼容性(EMS),功能,可靠性及寿命,外观与结构要求,环境要求,电磁兼容性,外观和结构,数据安全,安全,环境适应性,无线电骚扰,抗扰度,可靠性,卡座,字符及输出,存储器,机械环境适应性（振动、冲击、碰撞、跌落）,气候环境适应性,电源,相互确认时间,脱机工作能力,通信,键盘,外观结构要求,外观也结构要求,互相确认时间,外观,字符及其输出,脱机工作功能,通信功能,在线IC卡终端设备,环境试验,离线IC卡终端设备,机械环境条件,气候环境条件,电磁兼容要求,碰撞试验,环境,外观与结构,功能试验,外观检查,安全检查

检测标准：

1、GB 4943.1-2011 《信息技术设备 安全 第1部分：通用要求》

2、CJ/T166-2014 建设事业集成电路（IC）卡应用技术条件 6.2.1.2

3、GB/T 18239-2000 集成电路（IC卡）读写机通用规范 GB/T 18239-2000

4、GB4943.1-2011 信息技术设备 安全 第1部分：通用要求

5、GB/T18239-20004.6.1,5.6.1 集成电路（IC）卡读写机通用规范

6、GB 4943.1-2011 《信息技术设备 安全 第1部分：通用要求》 GB 4943.1-2011

7、GB/T18239-20004.6.2,5.6.2 集成电路（IC）卡读写机通用规范

8、GB/T 18239-2000 集成电路(IC)卡读写机通用规范

9、CJ/T 166-2014 建设事业集成电路（IC）卡应用技术 CJ/T 166-2014

10、CJ/T166-20146.2.1.2 建设事业集成电路（IC）卡应用技术条件

11、CJ/T 166-2014 建设事业集成电路（IC）卡应用技术条件 7

12、GB/T 18239 2000 集成电路(IC)卡读写机通用规范 4.1

13、GB/T18239-20004.3,5.7 集成电路（IC）卡读写机通用规范

14、GB/T18239-2000 集成电路（IC）卡读写机通用规范 4.2,5.2

检测流程步骤

1、电话沟通、确认需求；

2、推荐方案、确认报价；

3、邮寄样品、安排检测；

4、进度跟踪、结果反馈；

5、出具报告、售后服务；

6、如需加急、优先处理；