薄膜测厚仪 m312572检测

产品简介

技术参数： ◎量限:0-1mm◎分度值:0.001mm ◎上测头曲率半径:15-50mm ◎测头对试样施加负荷:0.1-0.5N◎测量精度: 100vm以内 <1vm/100-250vm <2vm/250vm <3vm ◎执行标准:GB6672-86 ◎本测厚仪适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度(不适用于压花的薄膜和薄片). 

产品详细信息 CH-1-ST型薄膜测厚仪:
本测厚议适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度（不适用于压花的薄膜和薄片）。
本测厚仪执行GB-T6672-2001标准。




技术参数： ◎量限:0-1mm
◎分度值:0.001mm
◎上测头曲率半径:15-50mm
◎测头对试样施加负荷:0.1-0.5N
◎测量精度: 100vm以内 <1vm/100-250vm <2vm/250vm <3vm
◎执行标准:GB6672-86
◎本测厚仪适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度(不适用于压花的薄膜和薄片).

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