CHY-C2测厚仪-塑料薄膜-纸张-铝箔 检测

产品简介

CHY-C2测厚仪-塑料薄膜-纸张-铝箔-高精度测厚仪，CHY-C2测厚仪采用接触式测量方式，严格符合标准要求，有效保证了测试的规范性和准确性。CHY-C2测厚仪严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制，CHY-C2测厚仪测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差

产品详细信息

CHY-C2测厚仪-塑料薄膜-纸张-铝箔-高精度测厚仪

CHY-C2测厚仪采用接触式测量方式，严格符合标准要求，有效保证了测试的规范性和准确性。
CHY-C2测厚仪严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制
CHY-C2测厚仪测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差
支持自动和手动两种测量模式，方便用户自由选择
实时显示测量结果的*大值、*小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断
配置标准量块用于系统标定，保证测试的精度和数据一致性
系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能，方便快捷地获取测试结果
系统由微电脑控制，搭配液晶显示器、菜单式界面和PVC操作面板，方便用户进行试验操作和数据查看
标准的RS232接口，便于系统的外部连接和数据传输
支持Lystem™实验室数据共享系统，统一管理试验结果和试验报告

CHY-C2测厚仪该设备满足多项国家和国际标准：ISO 4593、 ISO 534、 ISO 3034、 GB/T 6672、 GB/T 451.3、 GB/T 6547、ASTM D374、 ASTM D1777、 TAPPI T411、 JIS K6250、 JIS K6783、 JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817

CHY-C2测厚仪应用

基础应用	薄膜薄片	适用于塑料薄膜、薄片的厚度测试
	纸张	适用于纸张、纸板的厚度测试
	箔片、硅片、金属片	适用于箔片、硅片、金属片的厚度测试
	纺织、无纺布材料	适用于纺织材料的厚度测试
	固体电绝缘体	适用于固体电绝缘体的厚度测试
扩展应用	量程扩展至5，10mm	适用于测试薄膜、片材的厚度
	测量头为曲面	满足特殊场合的厚度测试

CHY-C2测厚仪技术参数

负荷量程 0 ～ 2 mm（常规）0 ～ 6 mm；12 mm （可选）
分辨率 0.1 μm
测量速度 10 次/min （可调）
测量压力 17.5±1 KPa（薄膜）；50±1 KPa（纸张）
接触面积 50 mm2（薄膜）；200 mm2（纸张）注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制
电源 AC 220V 50Hz
外形尺寸 300 mm (L) × 275 mm (W) × 300 mm (H)
净重 33 kg

CHY-C2测厚仪标准配置：主机、微型打印机、标准量块一件
CHY-C2测厚仪选购件：专业软件、通信电缆、配重砝码盘、配重砝码

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