简介：产品简介X-RAY荧光测厚仪、X射线荧光法是高效的材料分析工具。它广泛应用于镀层厚度测量，同时也适于进行元素分析。X-RAY荧光测厚仪|x射线测厚仪|x荧光光谱仪|荧光光谱分析可以对几乎任意尺寸和状态
X-RAY荧光测厚仪、X射线荧光法是高效的材料分析工具。它广泛应用于镀层厚度测量，同时也适于进行元素分析。 X-RAY荧光测厚仪|x射线测厚仪|x荧光光谱仪|荧光光谱分析可以对几乎任意尺寸和状态的工件进行分析。粉末和糊状材料可以和固体或液体一样进行分析。
X-RAY荧光测厚仪|x射线测厚仪|x荧光光谱仪|荧光光谱分析FISCHERSCOPE® X-RAY XULM®型以及FISCHERSCOPE® X-RAY XULM® XYm型X射线光谱仪简介
FISCHERSCOPE®-X-RAY XULM是一款应用广泛的能量色散型X射线荧光光谱仪，它结构紧凑，小巧耐用。它们十分适用于无损测量细小零部件上的镀层厚度和成分分析。
为了使每次测量都能在优先的条件下进行，XULM配备了可电动调整的多种准直器及基本滤片。
比例接收器能实现高计数率，这样就可以进行高精度测量。由于采用了Fischer基本参数法，无论是镀层系统还是固体和液体样品，都能在没有标准片的情况下进行准确分析和测量。可测量的元素范围从氯（17）到铀（92）。
XULM型X射线光谱仪有着良好的长期稳定性，这样就不需要经常校准仪器。
本款仪器特别适合用于客户进行质量控制、进料检验和生产流程监控。
典型的应用领域有：
微小零部件、接插件和线材上镀层厚度的测量
印制线路板上手动测量
珠宝手表业中的镀层厚度测量及成分分析
FISCHERSCOPE® X-RAY XULM系列X-RAY荧光测厚仪|x射线测厚仪|x荧光光谱仪|荧光光谱分析设计理念
FISCHERSCOPE X-RAY XULM设计为界面友好、结构紧凑的台式测量仪器系列。根据使用用途，有以下两种不同版本型号，分别对应不同样品平台：
XULM： 固定平面平台
XULM XYm： 手动X/Y平台
高分辨的彩色摄像头配以强大的放大功能，可以***定位测量位置。
尽管仪器本身结构紧凑，但是由于XULM光谱仪配备了宽敞的测量室，从而可以测量更大体积的样品。
外罩底部留下了空隙，可方便地测量超出测量室大小的大尺寸扁平样品，如大面积的印制线路板等。
通过强大且界面友好的WinFTM®软件，可以在电脑上便捷地完成整个测量过程，包括测量结果的数据分析和所有相关信息的显示等。
XULM型光谱仪是型式许可符合德国”Deutsche Röntgenverordnung-RöV“法令要求的，有完善防护措施的测量仪器。
FISCHERSCOPE® X-RAY XULM系列X-RAY荧光测厚仪|x射线测厚仪|x荧光光谱仪|荧光光谱分析之通用规范
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用途 |
能量色散X射线荧光光谱仪 (EDXRF) 用于测量镀层厚度和材料分析 |
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可测量元素范围 |
从氯（17）到铀（92），如使用选配的WinFTM® BASIC，可*多同时测量24种元素 |
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设计理念 |
台式仪器，测量门向上开启 |
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测量方向 |
由下往上 |
FISCHERSCOPE® X-RAY XULM系列X-RAY荧光测厚仪|x射线测厚仪|x荧光光谱仪|荧光光谱分析之X射线源
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X射线靶材 |
带铍窗口的钨靶微聚焦射线管 |
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高压 |
三种可调高压：30 kV，40 kV，50 kV |
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孔径（准直器） |
4个可切换准直器： 标准型(523-440)：圆形Ø 0.1mm；Ø 0.2mm；矩形0.05 x 0.05mm；0.2 x 0.03mm 可选 (523-366)：圆形Ø 0.1mm；Ø 0.2mm；Ø 0.3 mm；矩形0.3 x 0.05 mm 可选 (524-061)：圆形Ø 0.1mm；Ø 0.2mm；矩形0.3 x 0.05 mm；0.05 x 0.05mm 可按要求定制其它规格 |
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基本滤片 |
3种可切换的基本滤片（标准型：镍，无，铝） |
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测量点大小 |
取决于测量距离和使用的准直器的大小，视频窗口中显示的就是实际的测量点尺寸，使用矩形0.05 x 0.05mm准直器，*小的测量点面积约为Ø 0.1 mm。 |
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测量距离，如样品为腔体时 |
使用***保护的DCM（测量距离补偿法）功能： 测量距离为0 ~ 20 mm时，为已校准范围； 测量距离为20 ~ 27.5 mm，为非校准范围。 |
X射线探测器
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X射线接收器 |
比例接收器 |
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二次滤波器 |
可选：钴滤波器或镍滤波器 |
样品定位
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视频显微镜 |
高分辨 CCD彩色摄像头，可用来观察测量位置 十字线刻度和测量点大小经过校准 测量区域的LED照明亮度可调节 |
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放大倍数 |
38 x ~184x (光学变焦: 38x ~ 46x; 数字变焦: 1x, 2x, 3x, 4x) |
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样品台 |
XULM |
XULM XYm |
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设计 |
固定样品平台 |
手动XY平台 |
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X/Y方向*大可移动范围 |
- |
50 x 50 mm |
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样品放置可用区域 |
250 x 280mm | |
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样品*大重量 |
2kg | |
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样品*高高度 |
240mm | |
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FISCHERSCOPE® X-RAY XULM系列X-RAY荧光测厚仪|x射线测厚仪|x荧光光谱仪|荧光光谱分析之电气参数 | |
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电压，频率 |
AC 115 V 或 AC 230 V 50 / 60 Hz |
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功率 |
*大为 120 W (测量头重量，不包括计算机) |
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保护等级 |
IP40 |
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仪器规格 | |
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外部尺寸 |
宽x深x高[mm]：395 x 580 x 510 |
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重量 |
约45 kg |
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内部测量舱尺寸 |
宽x深x高[mm]：360 x 380 x 240 |
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环境要求 | |
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测量时温度 |
10°C – 40°C / 50°F – 104°F |
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存储或运输时温度 |
0°C – 50°C / 32°F – 122°F |
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空气相对湿度 |
≤ 95 %，无结露 |
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计算系统 | |
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计算机 |
带扩展卡的Windows®个人计算机系统 |
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软件 |
标准配置：Fischer WinFTM® LIGHT |
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可选配置：Fischer WinFTM® BASIC, PDM®, SUPER | |
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执行标准 | |
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CE合格标准 |
EN 61010 |
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X射线标准 |
DIN ISO 3497和 ASTM B 568 |
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型式许可 |
型式许可符合德国”Deutsche Röntgenverordnung-RöV“法令要求的，有完善防护措施的测量仪器。 |
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