薄膜测厚仪 检测

产品简介

薄膜测厚仪可快速**地测量透明或半透明薄膜的厚度，其测量膜厚范围为15nm-50um，仪器所发出测试光的波长范围为400nm-1100nm。此款测试系统理论基础为镜面反射率，并且采用光纤反射探头。仪器尺寸小巧，方便于在实验室中摆放和使用

产品详细信息

技术参数

测量膜厚范围	15nm-50um
光谱波长	400nm-1100nm
主要测量透明或半透明薄膜厚度	氧化物氮化物光刻胶半导体（硅，单晶硅，多晶硅等）半导体化合物（ALGaAs,InGaAs,CdTe,CIGS等）硬涂层（碳化硅，类金刚石炭）聚合物涂层(聚对二甲苯，聚甲基丙烯酸甲酯，聚酰胺)金属膜
特点	测量和数据分析同时进行，可测量单层膜，多层膜，无基底和非均匀膜包含了500多种材料的光学常数，新材料参数也可很容易地添加，支持多重算法：Cauchy,Tauc-Lorentz,Cody-Lorentz,EMA等体积较小，方便摆放和操作可测量薄膜厚度，材料光学常数和表面粗糙度使用电脑操作，界面中点击，即可进行测量和分析
精度	0.01nm或0.01%
准确度	0.2%或1nm
稳定性	0.02nm或0.02%
光斑尺寸	标准3mm,可以小至3um
要求样品大小	大于1mm
分光仪/检测器	400-1100nm波长范围光谱分辨率:< 1 nm电源100-250VAC,50/60Hz20W
光源	5W的钨卤素灯色温：2800K使用寿命:1000小时
反射探针	光学纤维探针，400um纤维芯配有分光仪和光源支架
载样台	测量时用于放置测量的样品
通讯接口	USB接口，方便与电脑对接
TFCompanion软件	强大的数据库包含500多种材料的光学常数（n：折射率，K：消失系数）误差分析和模拟系统，保证在不同环境下对样品测量的准确性可分析简单和复杂的膜系
设备尺寸	200x250x100mm
重量	4.5kg

百检网致力于为企业及个人提供便捷、高效的检测服务，简化检测流程，提升检测服务效率，利用互联网+检测电商，为客户提供多样化选择,从根本上降低检测成本提升时间效率，打破行业局限和行业瓶颈，打造出行业创新的检测平台，如有需求请联系18501763637