简介:产品简介UM-2超声波测厚仪根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的,当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时,脉冲被反射回探头,通过**测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。UM
UM-2超声波测厚仪根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的,当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时,脉冲被反射回探头,通过**测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。UM-2分辨力0.01,超声波测厚仪具有*小厚度值捕捉模式:可选择显示当前厚度值或*小厚度值;数据存储;报警功能
UM-2超声波测厚仪技术数据 工作原理 测量范围 | |
V路径修正 示值误差 重复性 显示屏 测量刷新频率 材料声速范围 数据存储 工作语言 电源 操作时间 自动关机 工作温度 尺寸 重量 标准配置 附件 |
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