简介:产品简介本公司专业提供TRF5000X-ray膜厚仪镀层测厚仪成分检测分析能量色散X荧光光谱仪,为您提供演示、测样、选型、销售及服务。TRF5000X-ray膜厚仪镀层测厚仪成分检测分析能量色散X荧光
本公司专业提供TRF5000 X-ray膜厚仪 镀层测厚仪 成分检测分析 能量色散X荧光光谱仪,为您提供演示、测样、选型、销售及服务。TRF5000 X-ray膜厚仪 镀层测厚仪 成分检测分析 能量色散X荧光光谱仪更好地应对镀层测试要求,增加了元素测试范围,探测器配备SDD的测试系统,特别是提高了单镀层、双镀层、多镀层及复合镀层的测试精度,同时还可以应对其它一些合金成分测试的情况。
本公司专业提供TRF5000X-ray膜厚仪镀层测厚仪成分检测分析能量色散X荧光光谱仪,为您提供演示、测样、选型、销售及服务。
TRF5000 X-ray膜厚仪 镀层测厚仪 成分检测分析 能量色散X荧光光谱仪更好地应对镀层测试要求,增加了元素测试范围,探测器配备SDD的测试系统,特别是提高了单镀层、双镀层、多镀层及复合镀层的测试精度,同时还可以应对其它一些合金成分测试的情况。
TRF5000 X-ray膜厚仪 镀层测厚仪 成分检测分析 能量色散X荧光光谱仪应用领域:
.镀层成分分析
镀层厚度分析
镀层环保检测
1.1技术性能及指标:
1.6.1.元素分析范围从硫(S)到铀(U);
1.6.2.元素含量分析范围为1PPm到99.99%;
1.6.3.测量时间:30-60秒(可调);
1.6.4.同时多镀层层数:***多可达5层
1.6.5.能量分辨率为129±5电子伏特;
1.6.6.温度适应范围为15℃至30℃;
1.6.7.电源:交流220V±5V(建议配置交流净化稳压电源);
1.6.8.仪器尺寸:540mm*510mm*470mm
1.2 TRF5000 X-ray膜厚仪 镀层测厚仪 成分检测分析 能量色散X荧光光谱仪产品特点
1.2.1TRF5000型,更好地应对镀层测试要求,增加了元素测试范围,探测器配备SDD的测试系统,特别是提高了单镀层、双镀层、多镀层及复合镀层的测试精度,同时还可以应对其它一些合金测试的情况。
1.2.2整体结构化设计,仪器美观大方。
1.2.3采用美国型的SDD探测器,电致冷而非液氮制冷,体积小、数据分析准确且维护成本低。
1.2.4采用自主研发的SES信号处理系统(数字多道),有效提高峰背比,让测量更精准。
1.2.5一键式自动测试,使用更简单,更方便,界面更人性化。
1.2.6多重防辐射泄露设计,辐射防护级别属于同类产品级。
1.2.7优化一体化散热设计,使整机散热性能得到更大提高,确保X射线源的运行**。
1.2.8独有的机芯温度监控技术,确保射线源的**可靠运行,有效延长其使用寿命,降低使用成本。
1.2.9多重仪器配件保护系统,并可通过软件进行全程监控,让仪器工作更稳定、更**。
1.2.10专用镀层测试软件,标准视窗设计,界面友好,操作简便,所有控制均在轻点鼠标之间。
1.2.11本机采用USB2.0接口,有效保证数据准确高速有效的传输。
1.2.12采用微聚焦准直技术的超小的准直器孔径(***小可达Φ0.2mm),用于小型样品及不规则样品表面测试。
1.2.13采用上照式激发方式,对样品的激发效率更高,测试更准确。
2.仪器硬件部分主要配置
2.1SDD电制冷探测器:(型探测器)
2.1.1.SDD电制冷探测器;分辨率:129±5e电子伏特
2.1.2.放大电路模块:对样品特征X射线进行探测;把探测采集的信息,进一步放大。
2.2X射线激发装置(薄铍窗光管):
2.2.1.灯丝电流输出:1mA;
2.2.2.属于半损耗型部件,使用寿命大于5000小时
2.3高压发射装置(进口高压):
2.3.1.电压输出:50kV;
2.3.2.***小5kv可控调节
2.3.3.自带电压过载保护
2.4数字多道分析器:
2.4.1.将采集的模拟信号转换成数字信号,并将处理结果提供给上位机软件;
2.4.2道数:4096;
2.4.3包含信号增强处理功能;
2.5光路过滤模块
2.5.1降低X射线光路发送过程中的干扰,保证探测器接收信号准确;
2.5.2将准直器与滤光处整合;
2.6超小准直器孔径
2.6.1准直器孔径***小可以到达直径0.2mm。
2.7工作曲线自动选择模块
2.7.1自动选择工作曲线,摒弃手动选择,避免人为操作失误,将自动化和智能化
演绎得更**,使操作更人性,更方便。
2.8高精度激光定位模块
2.8.1根据客户实际需求配置自动或手动激光定位模块,准确定位样品测试点高度,精度可以达到0.1mm级别,大大提高了测试的准确度及测试的稳定度。
3.专用软件镀层测试软件
3.1镀层测试软件
3.1.1软件简介
专门针对多种情况镀层检测而开发,对采集的光谱信号进行数据处理、计算并报告显示测量结果,即包含工作曲线测量方法更新加入我公司专门开发的FP测量方法。
3.1.2功能介绍
※专门应对各种单、多镀层及复合镀层、超厚镀层的测试。
※操作界面简洁直观,使用方便,无需专业人士操作
TRF5000 X-ray膜厚仪 镀层测厚仪 成分检测分析 能量色散X荧光光谱仪软件:
※可自动选择适合的校准曲线,测量更方便,更准确
※中英文界面自动切换,并具有第三方语言订制功能
※自动校准仪器
※自带样品材质定性分析,防止手动用户选择错误曲线
※多种报告形式打印
※可同时显示多个光谱图
※仪器测试参数及真空度实时显示,所有掌控一目了然
※独有的机芯温度监控技术,保证X射线源的**可靠运行,有效延长其使用寿命,降低使用成本。
4.样品配置
标准样品用于制作工作曲线
4.1样品腔
开放式大样品腔:150mm×120mm×50mm
4.2标样
银校正片
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