铜层测厚仪 CMI700检测

产品简介            

  CMI760线路板面/孔铜厚测量仪CMI 760专为满足印刷电路板行业铜厚测量和质量控制的需求而设计.

               

产品详细信息

CMI760线路板面/孔铜厚测量仪
CMI700
仪器介绍
牛津仪器测厚仪器CMI760专为满足印刷电路板行业铜厚测量和质量控制的需求而设计。
CMI760可用于测量表面铜和穿孔内铜厚度。这款高扩展性的台式测厚仪系统能采用微电阻和电涡流两种方法来达到对表面铜和穿孔内铜厚度准确和**的测量。CMI 760台式测量系统具有非常高的多功能性和可扩展性，对多种探头的兼容使其满足了包括表面铜、穿孔内铜和微孔内铜厚度的测量、以及孔内铜质量测试的多种应用需求。
同时CMI760具有先进的统计功能用于测试数据的整理分析。
技术参数
SRP-4面铜探头测试技术参数：
铜厚测量范围：
化学铜：10 μin – 500 μin (0.25 μm – 12.7 μm)
电镀铜：0.1 mil – 6 mil (2.5 μm – 152 μm)
线形铜可测试线宽范围：8 mil – 250 mil (203 μm – 6350 μm)
准确度：±1% (±0.1 μm)参考标准片
**度：化学铜：标准差0.2 %；电镀铜：标准差0.5 %
分辨率：0.01 mils &ge; 1 mil, 0.001 mils <1 mil,
0.1 &mu;m &ge; 10 &mu;m, 0.01 &mu;m < 10 &mu;m, 0.001 &mu;m < 1 &mu;m

ETP孔铜探头测试技术参数：
可测试*小孔直径：35 mils (899 &mu;m)
测量厚度范围：0.08 &ndash; 4.0 mils (2 &ndash; 102 &mu;m)
电涡流原理：遵守ASTM-E376-96标准的相关规定
准确度：&plusmn;0.01 mil (0.25 &mu;m) < 1 mil (25 &mu;m)
**度：1.2 mil（30&mu;m）时，达到1.0% （实验室情况下）
分辨率：0.01 mils (0.1&mu;m)

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