GB/T 1555-2009 半导体单晶晶向测定方法

检测标准有哪些内容？检测标准都涵盖了哪些方面？ GB/T 1555-2009 半导体单晶晶向测定方法
【英文标准名称】: Testing methods for determining the orientation of a semiconductor single crystal
【中文标准名称】: 半导体单晶晶向测定方法
【标准号】: GB/T 1555-2009
【标准状态】: 现行
【发布日期】: 1979-05-26
【实施日期】: 2010-06-01
【发布部门】: 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局;中国国家标准化管理委员会
【起草单位】: 峨嵋半导体材料厂
【起草人】: 杨旭;何兰英
【标准技术委员会】: 全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会
【中国标准分类号】: H80
【国际标准分类号】: 29_045
百检网致力于为企业及个人提供便捷、高效的检测服务，简化检测流程，提升检测服务效率，利用互联网+检测电商，为客户提供多样化选择,从根本上降低检测成本提升时间效率，打破行业局限和行业瓶颈，打造出行业创新的检测平台，如有需求请联系18501763637