简介:1范围GB/T2423的本部分规定的高温试验适用于非散热和散热试验禅品。试验Bb和试验Bd与早期版本无实质上的差异"。本高温试验的目的仅限于用来确定元件,设备或其他产品在高温环境下使用,运输或贮存的能
1范围
GB/T 2423的本部分规定的高温试验适用于非散热和散热试验禅品。试验Bb和试验Bd与早期版本无实质上的差异"。
本高温试验的目的仅限于用来确定元件,设备或其他产品在高温环境下使用,运输或贮存的能力。本高温试验不能用来评价试验样品耐温度变化的能力和在温度变化环境下的运行能力,在这种情况下,应采用GB/T 2423。22-
本高蹑试验方法细分为以下几种:—非散热试脸样品高滥试验;
试验 Bb,温度渐变。-—散热试验样品高温试脸:
试验 Bd,温度渐变;
试验Be,温度渐变,试脸样品在整个试验过通电。
本部分给出的试脸方法通常用于试验期间能达到磊度稳定的试脸禅品。
2规范性引用文件
下列文件中的条款通过GB/T 2423的本部分的引用而成为本部分的条款。凡匙注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容>或修订版均不适用于本部分﹐然而,竣励根据木部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的*新版本。凡是不注日期的引用文件,其*新版本适用于本部分。
GB/T 2421
电工电子产品环境试验
第1部分:总则(GB/T 2421--1999, idt IEC 60068-1,1988>
GB/T 2422电工电子产品环境试验
术语<GB/T 2422---1995,eqw 1EC 6oo68-5-2。 199o>
GB/T 2423.22 电工电子产品环境试验第﹖部分:试验方法试验N,温度变化(GB/T 2423.222002,IEC 60068-2-14。1984, IDT)
GB/T 2424.1电工电子产晶环境试验﹐高M低温试验导则<GB/T 2424.1--2005,1EC 60068-3-1。1974,IDT)
GB/T 2424.5电工电子产品环境试验﹑温度试验箱性能确认(GB/T 2424,5--一2006,IEC 60068-3-5。2001,IDT)
GB/T 2424.7电工电子产品环境试验试验A和试验B(带负o>用温度试验箱的测量(GB/T 2424.7---2006,IEC 60068-3-7。2001,IDT>
IEC 60721(所有部分)环境条件分级
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