闪存盘检测

1范围
本标准规定了闪存盘的术语和定义、要求,试验方法,检验规则,标志,包装,运输和贮存等相关内容。本标准适用于闪存盘(以下简称“产品”),其他包含闪存盘功能模块的设备也可参考，
2规范性引用文件
下列文件中的条款通过本标准的引用面成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准,然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的*新版本。凡是不注日期的引用文件,其*新版本适用于本标准。
GB/T 191—2000包装储运图示标志(eqv TSO 780:1997)
GB/T 242.1-一2008电工电子产品环境试验概述和指南(IEC 60068-1:1988,1DTGB/T 2422—-1995电工电子产品环境试验﹐术语(IEC 60068-5-2,1990,EQV)
GB/T 2423.1—2008电工电子产品环境试验﹑第2部分:试验方法―试验A;低温(IEC 60068-2-1:2007.IDT)
GB/T 2423.2—2008电工电子产品环境试验﹑第⒉部分:试验方法︰试验B;高温(IEC 60068-2-2:2007,1DT)
GB/T 2423.3—2006电工电子产品环境试验﹑第⒉部分:试验方法︰试验Cab:恒定湿热试验(IEC60058-2-78;2001.1DT)
GB/T 2423,5—1995电工电子产品环境试验第5部分:试验方法︰试验Ea和导则:冲击(idtIEC 60068-2-27:1987)
GB/T 2423.6—1995电工电子产品环境试验﹑第二部分:试验方法试验Eb和导则;碰擅(idtIEC 60068-2-29:1987)
GB/T 2423.8—1995电工电子产品环境试验﹑第二部分;试验方法﹑试验Ed;自由跌落(idtIEC 60068-2-32:1990)
GB/T 2423.10-2008电工电子产品环境试验﹑第﹖部分:试验方法︰试验Fe:振动(正弦)(IEC 60068-2-6:1995,1DT)
GB/T 2828.1—2003计数抽样检验程序﹑第1部分:按接收质量限(AQL)检索的逐批检验抽样计划(ISO 2859-1:1999.1DT)
GB/T 2829-2002周期检验计数抽样程序及表(适用于对过程稳定性的检验)
GB/T 5080.7—1986设备可靠性试验﹑恒定失效率假设下的失效率与平均无故障时间的验证试验方案(idn lEC 60605-7:1978)
GB/T 5271.14—2008信息技术︰词汇︰第14部分:可靠性,可维护性与可用性(ISO 2382-14:1997.1DT)
GB 9254-2008信息技术设备的无线电骚扰限值和测量方法(CISPR 222006,1DT)GEB/T 9813--2000微型计算机通用规范
GB/T 17618--1998信息技术设备抗扰度限值和测量方法(idt CISPR 24;1997)

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