简介:1范围本标准规定了光传送网(OTN)的测试方法,主要包括:系统参考点定义、开销及维护信号测试。光接口测试、抖动测试、网络性能测试。OTN设备功能测试,保护倒换测试,网管功能验证和控制平面测试等。本标准
1范围
本标准规定了光传送网(OTN)的测试方法,主要包括:系统参考点定义、开销及维护信号测试。光接口测试、抖动测试、网络性能测试。OTN设备功能测试,保护倒换测试,网管功能验证和控制平面测试等。本标准适用于OTN终端复用设备和OIN交叉连接设备,其中OTN交叉设备主要包括OTN电交叉设备、OIN光交叉设备和OTN光电混合交叉设备。
2规范性引用文件
下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注8期的引用文件,其随后所有的
修改单(不包括勒误的内容)或修订版均不适用于本标准。然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究
是否可使用这些文件的*新版本。凡是不注日期的引用文件,其*新版本适用于本标准。
YD/T 1159 2001
光波分复用(WDM)系统测试方法
YD/T 1383- -2005
波分复用(WDM)网元管理系统技术要求
YD/T 1462- 2006
光传送网(OTN)接口
YD/T 1990-2009
光传送网(OTN)网络总体技术要求
YD/T2147- 2010
Nx4OGbi/s光波分复用(WDM)系统测试方法
IETF RFC 2544
网络互连器件的基本方法论
ITU-T G783
SDH设备功能块
ITU-T G825
基于同步数字体系(SDH) 的数字网内的抖动和漂移控制
ITU-T G8251
光传送网(OTN) 内的信号抖动和漂移控制
3符号和缩略语
下列符号和缩略语适用于本标准。
ACT
Activation (in the TCM ACT byte)
激活(在TCM ACT中的字节)
Alarm Indication Signal
告替指示信号
APS
Automatie Protection Switching
自动保护倒换
BDI
Backward Defect Indication
后向缺陷指示
BDI-O
Backward Defect Indication Overhead
后向缺陷指示开销
BDI-P
Backward Det Indication Payload
后向缺陷指示净荷
BEI
Backward Error Indication
后向误码指示
BIAE
Backward Incoming Aligment Error
后向输入定位误码
BIP
Bit Interleaved Parity
比特奇偶问插
CBR
Constant Bit Rate
固定比特速率
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