简介:1范围GB/T17421的本部分规定了两线性轴线联动所产生的函形轨迹的双向圆偏差、平均双向半径偏差、圆偏差和半径偏差及的检验和评定方法。有关的检验工具见ISO230-1:1996中6.6.3的说明。本
1范围
GB/T 17421的本部分规定了两线性轴线联动所产生的函形轨迹的双向圆偏差、平均双向半径偏差、圆偏差和半径偏差及的检验和评定方法。有关的检验工具见ISO 230-1:1996 中6.6.3的说明。本部分的目的是提供一种检验数控机床轮廓特性的方法。
2规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其*新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
ISO 230-1:1996机床检验通则第1部分;在无负荷或精加工条件下机床的几何精度
3术语和定义
下列术语和定义适用于本文件。3.1
名义轨迹nominal path
数控编程的圆形轨迹v它由直径(或半径)阙心的位置及在视床工作区的方向来定义,既可以是一个整阙,也可以是一个不小于90°的部分圆。
3.2
实际轨迹actual path
按编程的名义轨迹运动时,机床产生的轨迹。3.3
双向圆偏差bi-directional circular deviationG(b)
包容两条实际轨迹的两个同心圆(*小区域圆)的*小半径差,一条轨迹为顺时针轮廓运动,另一条为逆时针轮廓运动,见图1。
注1。双向瞬偏差G(b)还可用以*小二乘方隔为基准的*大半径偏差范围来评定。*小二乘方腿的计算根据﹖个
执迹,即顺时针和滋时针轨迹,
注2。双向w偏差G(b)不包括安装误差,即检验工具的定心误差。
注3:双向网偏差G(b)的测量,仅要求对检验设备进行位移校准(不需要为确定孰迹直径对检验设备进行长度的校
准)。半径偏差F和平均双向半径偏差D的测量,瞑求使用带有标定长度和标定位移的检验工且(见附录A),
注4,当-一个平面内的一条线上的所有点都包含在半径偏差不超过给定值的两个同心阕之间时,则认为这条线是闼
的(见图﹖和ISO 230-1, 1996中的6.6.13.
注5:G(b)是通过外部测量装置来测量的,即ISO 230-1 1996中 6.6.3所插述的。使用反馈信号的圆检验的测量结
果称为”使用反读信号的双向罔编差G(b3”.见附录D.
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